新聞中心 新聞中心 返回 盛群全新推出32-bit触控MCU 提供专业技术服务与解决方案 2022/06/10 關鍵字:HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253 触控按键产品应用推陈出新,终端产品朝向智能化趋势发展,市场迈入高速成长阶 段,盛群半导体(HOLTEK)全新推出资源更丰富、效能更高的5V宽电压ARM Cortex - M0+ Touch微控制器HT32F542xx系列,型号为HT32F54231、HT32F54241、 HT32F54243、HT32F54253,时脉最高可达60MHz,提供最多28个触控键,应用上 适用于智能家电、数码电子锁、工业控制等市场。 此系列MCU除了更稳定及可靠的电容式触控引擎核心硬件外,同时具备 USART/UART/SPI/I2C等标准通讯界面,让设计者易于连接各类传感器、无线模块等 来扩展产品功能,进而开发出各类智能家用电器及物联网终端设备。 触控按键感应依原理大致可区分为:电阻式、电感式、电容式、红外线式、表面声波式等,目前市场主要以电容式为主。终端应用产品要实现触控功能并不难,但要做到稳定及符合EMC规范,则是技术上的挑战。由于各家IC公司触控产品的设计技术及工程服务水平不一,开发者在触控按键应用的开发初期,可能没有建立正确的测试程序,导致一些潜在效能问题未能被检验出来,销售出去的成品在终端客户使用一段时间后,往往会出现不少售后客诉,尤其是AC供电或是各种应用环境下遭遇的问题诸如电源高频干扰、潮湿、水气等,都极易造成触控按键的误动作或失效现象,最终导致品牌厂商不小的困扰及商誉损失。 影响触控稳定性的原因及完善的测试方法: 常见干扰源 常见干扰:电压波动、温度/湿度变化、电磁干扰(RF天线、对讲机等)、电源干扰(电机启动、日光灯启动)等,都有可能引起触控不稳定。 完善的测试 以下测试方法基本可以营造出一般电子设备的使用环境,只要通过这些项目的测试,设计出来的触控产品都是相对稳定可靠的。 (一) 功能测试:操作触控按键的过程,同时将工作电压从高调到低,再从低调到高反覆做测试。 (二) 潮湿环境测试:利用水蒸气让待测的触控面板上结满露水,或者把触控面板靠近空调出风口,湿度越高电容值越高,相反地,湿度越低则电容值越低。 (三) 温度测试:用烘箱或热风加热,放入冰箱或冰柜制冷测试,设备充足的情况下还可以用专业的温度箱测试。 (四) 电源干扰测试:测试EFT脉冲群抗扰度,标准IEC61000-4-4、GB/T 17626.4,测试射频场感应的传导骚扰抗扰度:标准IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。 (五) 空间辐射测试:测试射频电磁场辐射抗扰度试验,标准IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3,测试场强在3 - 10V/m之间。 (六) ESD测试:标准IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。 盛群半导体(HOLTEK)自2006年开始研发设计触控按键IC,基于提供客户全面且专业的技术服务,于2008年成立「优方科技」,双方共同致力于触控感应解决方案的研究与发展,迄今积累十多年经验,每年协助客户量产数量多达2亿台。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的触控MCU,期望未来在触控应用市场中,提供客户从快速导入开发设计、终至成品量产出货的专业技术服务及完整解决方案。 新闻来源:Digitimes-盛群全新推出32-bit触控MCU 提供专业技术服务与解决方案 Lastest News 2022 2021 2020 2019 2018